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射频同轴连接器中心导体品质控制

作者 : 武汉市力申电子 文章来源 : 武汉市力申电子 更新日期:

要想做好一个合格的连接器不但电气性能要满足要求,而且外观控制也是至关重要的一个环节,一个外观看似不影响其电气性能的使用,但是如果外观不控制好的话,直接影响产品的使用寿命尤其是一些SMP的一些高频率连接器例如外观碰伤的话长时间使用产品会加速氧化,武汉市力申电子科技有限公司是这样控制产品外观的,前面我们讲过外导体的检验控制方法,我们还是以一个常见的N型射频同轴连接器为例:

一、PIN 缩口、 倒角 A级面外观不良展示 

图片1.png

二、PTFE装反检 

图片2.png

三、N型射频同轴连接器子母PIN针外观不良展示

图片3.png

四、使用40X 放大镜 二次元抽检 子母 PIN进行全检

图片4.png

武汉市力申电子科技有限公司生产的射频连接器和线缆组件的电气性能和外观品质在不断的提升,部分我们肉眼看不见的不良我们都会使用显微镜或者射频同轴连接器专用的二次元设备进行放大检验,我们的目标是提供合格的产品给客户。

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